XPL-3200偏光显微镜主要用于鉴别具有双折射特性的物质，是药理学、地质学和机械、冶金等部门用来研究结晶、矿物、岩石和金相组织的重要工具。产品采用优良的无限远光学系统，配置无应力长工作距离平场消色差物镜与大视野目镜，高精度偏光载物台，优良的偏振观察附件等。可在透射偏光，透/反射偏光状态下获得高品质的显微图像，仪器造型美观，结构稳定，操作舒适方便，是厂矿企业、科研院所进行检测、研究与教学的理想仪器。