采用位置色差与色场弯曲匹配技术，取消了传统辐射测温仪表中的干涉滤光片，消除了因滤光片随时间、温度及湿度漂移造成的误差，较大地提高了仪器的精度和稳定性，是辐射测温领域中的一次重大突破。     采用拟合法，无需任何表面发射率信息和辅助设备，直接求得物体的真实温度和光谱发射率。 仪器已出口意大利，并在航天科技集团四院烧蚀真温和发射率测量中取得应用。 仪器于1993年荣获国家级新产品称号，1995年荣获航天工业总公司科技进步二等奖。“多光谱辐射测温技术研究”荣获全国首届百名优秀博士论文奖。 主要技术指标：     ① 测温范围：700K～5000K；     ② 测量精度：优于1%；     ③ 波长范围：0.45～1.1μm；     ④ 波长数：>20个；     ⑤ 输出方式：模拟或数字输出。