一、技术开发单位
　　 北京理工大学
　　 二、技术简介
　　 光学投影式三维形貌测量方法是一种非接触、高精度、快速获取被测物三维形貌的方法。该系统硬件部分包括小型化条纹投射装置、高分辨率数字CCD相机和控制电路，自行编写的软件拥有仪器控制、图像采集、分析和可视化等功能并嵌套相位解包裹专用算法。
　　 三、技术特点
　　 基于此方法开发研制而成的测量系统可在1分钟内获取测量区域10～400cm2内被测物三维形貌，测量分辨率可达到200μm。
　　 四、技术水平
　　 该系统的测量速度及精度处于国内较为先进的水平且造价低廉，科研和教学领域均可使用。
　　 五、可应用领域和范围
　　 加工制造业中的逆向工程、产品检测，生物医学中的器官测量与建模和服装制造业中的虚拟试衣等。
　　 六、专利状态
　　 独立知识产权。
　　 七、技术状态
　　 样品阶段。
　　 八、合作方式
　　 技术转让。
　　 八、投入需求
　　 需要技术需求方进一步投入资金支持。
　　 九、预期效益
　　 该套系统造价比国外同类试验设备造价低5～10倍左右，具有较大的潜在经济效益和应用空间。
　　 十、联系方式
　　 联 系 人：马少鹏
　　 电    话：010-68912736
　　 电子邮箱：masp@bit.edu.cn