成果简介：光学投影式三维形貌测量方法是一种非接触、高精度、快速获取被测物三维形貌的方法。基于此方法开发研制而成的测量系统可在 1 分钟内获取测量区域 10cm2-400cm2 内被测物三维形貌，测量分辨率可达到 200μm。该系统硬件部分包括小型化条纹投射装臵、高分辨率数字 CCD 相机和控制电路，自行编写的软件拥有仪器控制、图像采集、分析和可视化等功能并嵌套相位解包裹专用算法。便携式设计使该套系统可方便应用于车间、厂矿等各种测量环境。